Название: К вопросу измерения интенсивности дефектов спектрального изображения, образованного дифракционными решетками
Авторы: Стрежнев, С.А.
Куинджи, В.В.
Саамова, Т.С.
Дата публикации: 1984
Издательство: Наука
Библиографическое описание: Стрежнев, С.А. К вопросу измерения интенсивности дефектов спектрального изображения, образованного дифракционными решетками / С.А. Стрежнев, В.В. Куинджи, Т.С. Саамова // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1984. – Т. 56, вып. 2. – С. 353 - 355.
Краткий осмотр (реферат): Описан новый метод измерения относительной интенсивности дефектов спектрального изображения, образованного дифракционными решетками, основанный на пространственном разделении дефектов и вторичных дифракционных максимумов, соответствующих дифракции Фраунгофера на прямоугольной апертуре исследуемой дифракционной решетки.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/61740
Располагается в коллекциях:Оцифрованный фонд

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Стрежнев_К_вопросу.pdf23.39 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.