Название: Разработка метода круговых диаграмм для практического использования при расчетах многослойных тонкопленочных систем
Авторы: Довгий, Я.О.
Мыкытюк, Б.В.
Дата публикации: 1985
Издательство: Наука
Библиографическое описание: Довгий, Я.О. Разработка метода круговых диаграмм для практического использования при расчетах многослойных тонкопленочных систем / Я.О. Довгий, Б.В. Мыкытюк // Оптика и спектроскопия / АН СССР. - Ленинград : Наука, 1985. - Т. 58, вып. 2. - С. 432-436.
Краткий осмотр (реферат): Проведен расчет отражательной способности многослойных диэлектрических зеркал типа TiO₂ - SiO₂, ZnS - Na₃AIF₆ при нормальном и наклонном падении света с использованием метода круговых диаграмм (МКД). Предложено приспособление для ускорения расчетов по МКД. Показано, что метод обеспечивает надлежащую точность и может с успехом применяться для других систем.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/62404
Располагается в коллекциях:Оцифрованный фонд

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Довгий_Разработка.pdf23.94 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.