Название: | Феноменологическая модель травления металлического покрытия в плазме газовой смеси |
Другие названия: | Phenomenological model of metal coating etching in a gas mixtured plasma |
Авторы: | Емельянов, В.В. Купо, А.Н. Емельянов, В.А. Emelyanov, V.V. Kupo, A.N. Emelyanov, V.A. |
Ключевые слова: | плазмохимическое травление алюминиевые межсоединения математическое моделирование плазменных процессов plasma-chemical etching aluminum interconnects mathematical modeling of plasma processes |
Дата публикации: | 2023 |
Издательство: | Гомельский государственный университет имени Ф.Скорины |
Библиографическое описание: | Емельянов, В.В. Феноменологическая модель травления металлического покрытия в плазме газовой смеси / В.В. Емельянов, А.Н. Купо, В.А. Емельянов // Проблемы физики, математики и техники. Сер.: Техника. - 2023. - № 4 (57). - С. 69-73. |
Краткий осмотр (реферат): | Построена феноменологическая модель плазмохимического травления аллюминиевого покрытия, являющегося основой токонесущих микроконстукций в технологиях изделий электронной техники, в газовой среде, содержащей парциальные компоненты BCl₃ с₁ = (50-65 об.%), Cl₂ с₂ = (25-35 об.%) и N₂ с₃ = (0–30 об.%) при давлении P = 150–250 мТорр и плотности мощности плазмы W = 1,6–2,2 Вт/см². = A phenomenological model of plasma-chemical etching of an aluminum coating is created, which is the basis of current-carrying microstructures in electronic product technologies, in a gas environment containing partial components BCl₃ с₁ = (50-65 vol.%), Cl₂ с₂ = (25-35 vol.%) and N₂ с₃ = (0–30 vol.%), at a pressure P = 150–250 mТоrr, and plasma power density W = 1,6–2,2 W/sm². |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.gsu.by/handle123456789/64529 |
Располагается в коллекциях: | Проблемы физики, математики, техники. Техника |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Емельянов_Феноменологическая.pdf | 362.88 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.