Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЕмельянов, В.В.-
dc.date.accessioned2022-12-27T06:20:07Z-
dc.date.available2022-12-27T06:20:07Z-
dc.date.issued2022-
dc.identifier.citationЕмельянов, В.В. Повышение селективности травления нитрида кремния к диоксиду кремния субмикронных интегральных схем / В.В. Емельянов // Известия Гомельского государственного университета имени Ф. Скорины. Сер.: Естественные науки. - 2022. - № 6 (135). - С. 114-117.ru
dc.identifier.urihttp://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/50654-
dc.description.abstractВ работе представлены решение для повышения селективности травления нитрида кремния, полученного химическим осаждением из парогазовой фазы, по отношению к термическому диоксиду кремния. = The paper presents a solution for increasing the selectivity of etching of silicon nitride obtained by chemical vapor deposition with respect to thermal silicon dioxide.ru
dc.language.isoРусскийru
dc.publisherГомельский государственный университет имени Ф.Скориныru
dc.subjectреактивно-ионное травлениеru
dc.subjectнитрид кремнияru
dc.subjectдиоксид кремнияru
dc.subjectмикроэлектроникаru
dc.subjectreactive ion etchingru
dc.subjectsilicon nitrideru
dc.subjectsilicon dioxideru
dc.subjectmicroelectronicsru
dc.titleПовышение селективности травления нитрида кремния к диоксиду кремния субмикронных интегральных схемru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udk537:621.3.049.774-
dc.rootИзвестия Гомельского государственного университета имени Ф. Скориныru
dc.placeOfPublicationГомельru
dc.seriesЕстественные наукиru
dc.number№ 6 (135)ru
Appears in Collections:Известия ГГУ им. Франциска Скорины. Естественные науки

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Емельянов_Повышение.pdf362.21 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.