Title: Измерение прозрачных пленок на поверхности стекла эллипсометрическим и спектрофотометрическим методами
Authors: Крылова, Т.Н.
Бохонская, И.Ф.
Карапетян, Г.А.
Issue Date: 1980
Publisher: Наука
Citation: Крылова, Т.Н. Измерение прозрачных пленок на поверхности стекла эллипсометрическим и спектрофотометрическим методами / Т.Н. Крылова, И.Ф. Бохонская, Г.А. Карапетян // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1980. – Т. 49, вып. 4. – С. 802-808.
Abstract: С помощью эллипсометрического и спектрофотометрического методов выполнены измерения толщины и показателя преломления тонких слоев окислов разного показателя преломления толщиной 100-6000 Å, полученных нанесением из гидролизующихся растворов, а также путем выщелачивания поверхности стекла.
URI: http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/50770
Appears in Collections:Оцифрованный фонд

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Крылова_Измерение.pdf11.01 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.