Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Толстой, В.П. | - |
| dc.contributor.author | Крылов, В.Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2023-06-16T09:26:06Z | - |
| dc.date.available | 2023-06-16T09:26:06Z | - |
| dc.date.issued | 1983 | - |
| dc.identifier.citation | Толстой, В.П. Исследование методом ИК спектроскопии отражения - поглощения сверхтонких диэлектрических слоев в структурах металл - диэлектрик - полупроводник / В.П. Толстой, В.Н. Крылов // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1983. – Т. 55, вып. 6. – С. 1066 - 1068. | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/61535 | - |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Наука | ru |
| dc.title | Исследование методом ИК спектроскопии отражения - поглощения сверхтонких диэлектрических слоев в структурах металл - диэлектрик - полупроводник | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.identifier.udk | 535.39 : 539.216 | - |
| dc.root | Оптика и спектроскопия | ru |
| dc.placeOfPublication | Ленинград | ru |
| dc.edition | 6 | ru |
| dc.volume | 55 | ru |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Толстой_Исследование.pdf | 22.65 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.