| Название: | Исследование методом ИК спектроскопии отражения - поглощения сверхтонких диэлектрических слоев в структурах металл - диэлектрик - полупроводник |
| Авторы: | Толстой, В.П. Крылов, В.Н. |
| Дата публикации: | 1983 |
| Издательство: | Наука |
| Библиографическое описание: | Толстой, В.П. Исследование методом ИК спектроскопии отражения - поглощения сверхтонких диэлектрических слоев в структурах металл - диэлектрик - полупроводник / В.П. Толстой, В.Н. Крылов // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1983. – Т. 55, вып. 6. – С. 1066 - 1068. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/61535 |
| Располагается в коллекциях: | Оцифрованный фонд |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Толстой_Исследование.pdf | 22.65 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.