Title: Исследование методом ИК спектроскопии отражения - поглощения сверхтонких диэлектрических слоев в структурах металл - диэлектрик - полупроводник
Authors: Толстой, В.П.
Крылов, В.Н.
Issue Date: 1983
Publisher: Наука
Citation: Толстой, В.П. Исследование методом ИК спектроскопии отражения - поглощения сверхтонких диэлектрических слоев в структурах металл - диэлектрик - полупроводник / В.П. Толстой, В.Н. Крылов // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1983. – Т. 55, вып. 6. – С. 1066 - 1068.
URI: http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/61535
Appears in Collections:Оцифрованный фонд

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Толстой_Исследование.pdf22.65 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.