| Title: | Исследование методом ИК спектроскопии отражения - поглощения сверхтонких диэлектрических слоев в структурах металл - диэлектрик - полупроводник |
| Authors: | Толстой, В.П. Крылов, В.Н. |
| Issue Date: | 1983 |
| Publisher: | Наука |
| Citation: | Толстой, В.П. Исследование методом ИК спектроскопии отражения - поглощения сверхтонких диэлектрических слоев в структурах металл - диэлектрик - полупроводник / В.П. Толстой, В.Н. Крылов // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1983. – Т. 55, вып. 6. – С. 1066 - 1068. |
| URI: | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/61535 |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Толстой_Исследование.pdf | 22.65 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.