Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Стаськов, Н.И. | - |
| dc.contributor.author | Парашков, С.О. | - |
| dc.contributor.author | Шилов, А.В. | - |
| dc.contributor.author | Крекотень, Н.А. | - |
| dc.date.accessioned | 2018-03-16T13:00:52Z | - |
| dc.date.available | 2018-03-16T13:00:52Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Аналитическое решение обратной задачи спектрофотометрии для поглощающего слоя на поглощающей подложке с диэлектрическим слоем / Н.И. Стаськов [и др.] // Проблемы физики, математики и техники. Сер.: Физика. - 2015. - № 3 (24). - С. 33-37. | ru |
| dc.identifier.issn | 2077-8708 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/123456789/2722 | - |
| dc.description.abstract | На примере двухслойной структуры полупроводник – диэлектрик – полупроводник рассмотрена возможность анали- тического определения оптических параметров 1 n (λ), 1 k (λ) и толщины 1 d верхнего слоя по огибающим спектров от- ражения при нормальном падении света. Рассчитать такие функции даже для случая отсутствия переходных зон между слоями очень сложно. Несовпадение огибающих расчетных и измеренных коэффициентов отражения в оп- ределенных областях спектров указывает на наличие неоднородных поверхностных и переходных зон в реальных структурах рSi – SiO2 – cSi. | ru |
| dc.language.iso | Русский | ru |
| dc.subject | двухслойная структура | ru |
| dc.subject | оптические спектры | ru |
| dc.subject | огибающие экстремумов | ru |
| dc.subject | переходные слои | ru |
| dc.title | Аналитическое решение обратной задачи спектрофотометрии для поглощающего слоя на поглощающей подложке с диэлектрическим слоем | ru |
| dc.title.alternative | Analitical solution of the inverse problem of a spectrophotometer absorbing layer on an absorbing substrate with dielectric layer | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.identifier.udk | 535.51 | - |
| dc.root | Проблемы физики, математики и техники | ru |
| dc.series | Физика | ru |
| dc.number | 3(24) | ru |
| Appears in Collections: | Проблемы физики, математики, техники. Физика | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Стаськов НИ Парашков СО Шилов АВ Крекотень НА 2015-3.pdf | 782.48 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.