Название: Получение плёнок ZnO: В с различным оптическим рассеянием и их влияние на формирование а-Si: H/mc-Si: H слоёв и собирание света в тонкопленочных кремниевых солнечных элементах
Другие названия: Preparation of ZnO: В films with different optical haze and their influence on а-Si: H/mc-Si: H layers formation aand light trapping in thin film silicon solar cells
Авторы: Курдесов, Ф.В.
Ключевые слова: прозрачный проводящий оксид (ППО)
собирание света
рамановский фактор кристалличности
гидрогенизированный микроморфный кремний (a-Si:H/µc-Si:H)
оптическое рассеяние
Дата публикации: 2011
Библиографическое описание: Курдесов, Ф.В. Получение плёнок ZnO: В с различным оптическим рассеянием и их влияние на формирование а-Si: H/mc-Si: H слоёв и собирание света в тонкопленочных кремниевых солнечных элементах / Ф.В. Курдесов // Проблемы физики, математики и техники. Сер.: Физика. - 2011. - № 4(9). - С. 45-50.
Краткий осмотр (реферат): Гидрогенизированные слои микроморфного кремния (a-Si:H/µc-Si:H) были получены на плёнках ZnO:B прозрачного проводящего оксида (ППО) с различной морфологией поверхности (различная шероховатость и оптическое рассеяние). Необходимая структура плёнок оксида цинка былa достигнута вариацией их толщины. Данная работа изучает зависимость структурных и оптических свойств слоёв Si от топографии ZnO. Наблюдается незначительное влияние морфологии поверхности подложек на рамановский фактор кристалличности. Он уменьшается примерно на 5% при увеличении оптического рассеяния на ППО от 2 до >40%, при этом значительно увеличивается общее собирание света в ZnO:B/a-Si:H/<µc-Si:H структурах (их коэффициент по-глощения возрастает с 50 до 70%). Оптимальная комбинация структурных и оптических свойств обнаружена при >20% уровне рассеяния света на ППО.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://hdl.handle.net/123456789/3080
ISSN: 2077-8708
Располагается в коллекциях:Проблемы физики, математики, техники. Физика

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Курдесов ФВ 2011-4.pdf1.23 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.