| Title: | Эллипсометрия тонких двухслойных покрытий на металлической подложке |
| Authors: | Рыбалка, А.И. Шкляревский, И.Н. |
| Keywords: | металлическая подложка двухслойное покрытие эллипсометрия амплитуда |
| Issue Date: | 1973 |
| Publisher: | Наука |
| Citation: | Рыбалка, А.И. Эллипсометрия тонких двухслойных покрытий на металлической подложке / А.И. Рыбалка, И.Н. Шкляревский // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1973. – Т. 35, вып. 6. – С. 1177-1179. |
| URI: | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/31487 |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Рыбалка_Эллипсометрия.pdf | 5.13 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.