1. Репозиторий УО "Гомельский государственный университет имени Франциска Скорины"
  2. Библиотека ГГУ
  3. Оцифрованный фонд
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorШкляревский, И.Н.-
dc.contributor.authorЭль Шазли, А.Ф.А.-
dc.contributor.authorЯровая, Р.Г.-
dc.contributor.authorКостюк, В.П.-
dc.date.accessioned2021-12-21T07:49:12Z-
dc.date.available2021-12-21T07:49:12Z-
dc.date.issued1974-
dc.identifier.citationЭллипсометрический метод измерения оптических постоянных и толщины тонких поглощающих пленок на металлической подложке / И.Н. Шкляревскийи [др.] // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1974. – Т. 36, вып. 1. – С. 199-204.ru
dc.identifier.urihttp://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/31579-
dc.language.isoРусскийru
dc.publisherНаукаru
dc.subjectэллипсометрический методru
dc.subjectметаллическая подложкаru
dc.subjectоптические постоянныеru
dc.subjectхромовые зеркалаru
dc.titleЭллипсометрический метод измерения оптических постоянных и толщины тонких поглощающих пленок на металлической подложкеru
dc.typeArticleru
dc.identifier.udk535.324+535.341-
dc.placeOfPublicationЛенинградru
dc.edition1ru
dc.volume36ru
Appears in Collections:Оцифрованный фонд

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Шкляревский_Эллипсометрический.pdf9.78 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.