| Название: | Эллипсометрический метод измерения оптических постоянных и толщины тонких поглощающих пленок на металлической подложке |
| Авторы: | Шкляревский, И.Н. Эль Шазли, А.Ф.А. Яровая, Р.Г. Костюк, В.П. |
| Ключевые слова: | эллипсометрический метод металлическая подложка оптические постоянные хромовые зеркала |
| Дата публикации: | 1974 |
| Издательство: | Наука |
| Библиографическое описание: | Эллипсометрический метод измерения оптических постоянных и толщины тонких поглощающих пленок на металлической подложке / И.Н. Шкляревскийи [др.] // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1974. – Т. 36, вып. 1. – С. 199-204. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/31579 |
| Располагается в коллекциях: | Оцифрованный фонд |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Шкляревский_Эллипсометрический.pdf | 9.78 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.