| Title: | Эллипсометрический метод измерения оптических постоянных и толщины тонких поглощающих пленок на металлической подложке |
| Authors: | Шкляревский, И.Н. Эль Шазли, А.Ф.А. Яровая, Р.Г. Костюк, В.П. |
| Keywords: | эллипсометрический метод металлическая подложка оптические постоянные хромовые зеркала |
| Issue Date: | 1974 |
| Publisher: | Наука |
| Citation: | Эллипсометрический метод измерения оптических постоянных и толщины тонких поглощающих пленок на металлической подложке / И.Н. Шкляревскийи [др.] // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1974. – Т. 36, вып. 1. – С. 199-204. |
| URI: | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/31579 |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Шкляревский_Эллипсометрический.pdf | 9.78 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.