| Title: | Эллипсометрия неоднородных поверхностных пленок |
| Authors: | Васильева, Л.Л. Свиташев, К.К. Семененко, А.И. Семененко, Л.В. Соколов, В.К. |
| Issue Date: | 1974 |
| Publisher: | Наука |
| Citation: | Эллипсометрия неоднородных поверхностных пленок / Л.Л. Васильева [и др.] // Оптика и спектроскопия / АН СССР. - Ленинград : Наука, 1974. - Т. XXXVII, вып. 3. - С. 574-581. |
| Abstract: | Проведены эллипсометрические исследования измерения показателя преломления по толщине пленки неоднородных аморфных поверхностных пленок. |
| URI: | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/32689 |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Васильева_Эллипсометрия.pdf | 11.68 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.