Название: Эллипсометрия неоднородных поверхностных пленок
Авторы: Васильева, Л.Л.
Свиташев, К.К.
Семененко, А.И.
Семененко, Л.В.
Соколов, В.К.
Дата публикации: 1974
Издательство: Наука
Библиографическое описание: Эллипсометрия неоднородных поверхностных пленок / Л.Л. Васильева [и др.] // Оптика и спектроскопия / АН СССР. - Ленинград : Наука, 1974. - Т. XXXVII, вып. 3. - С. 574-581.
Краткий осмотр (реферат): Проведены эллипсометрические исследования измерения показателя преломления по толщине пленки неоднородных аморфных поверхностных пленок.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/32689
Располагается в коллекциях:Оцифрованный фонд

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Васильева_Эллипсометрия.pdf11.68 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.