Название: Efficient surface passivation of n-type black silicon
Авторы: Ayvazyan, G.Y.
Khudaverdyan, S.K.
Lebedev, M.S.
Semchenko, A.V.
Семченко, А.В.
Ключевые слова: black silicon
solar cell
passivation
reflection
atomic layer deposition
hafnium dioxide
Дата публикации: 2019
Библиографическое описание: Efficient surface passivation of n-type black silicon / G.Y. Ayvazyan [et al.] // Proceedings of NAS RA and NPUA. Series of technical sciences. - 2019. - V. LXXII, № 1. - Р. 78-84.
Краткий осмотр (реферат): Surface recombination losses significantly reduce the efficiency of black silicon (b-Si) for solar cell applications. Surface passivation using suitable dielectric films can minimize these losses. This paper reports the investigation on the passivation properties of the hafnium dioxide (HfO2) film deposited on n-type b-Si surface via the atomic layer deposition method. It is shown that in addition to efficient passivation, HfO2 film reduces the reflectance of the b-Si surface in the wide spectral range.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/33599
Располагается в коллекциях:Статьи

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Ayvazyan_Efficient_surface_passivation_of_n-type_black_sili.pdf646.85 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.