| Название: | Определение параметров поглощающих пленок с помощью метода эллипсометрии |
| Авторы: | Дагман, Э.Е. Панькин, В.Г. Свиташев, К.К. Семененко, Л.В. Семененко, А.И. Шварц, Н.Л. |
| Дата публикации: | 1979 |
| Издательство: | Наука |
| Библиографическое описание: | Определение параметров поглощающих пленок с помощью метода эллипсометрии / Э.Е. Дагман [и др.] // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1979. – Т. 46, вып. 3. – С. 559-565. |
| Краткий осмотр (реферат): | Предложена методика определения оптических постоянных и толщины поглощающих пленок, основанная на применении метода максимального правдоподобия. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/46612 |
| Располагается в коллекциях: | Оцифрованный фонд |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Дагман_Определение.pdf | 11.67 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.