Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Дагман, Э.Е. | - |
| dc.contributor.author | Панькин, В.Г. | - |
| dc.contributor.author | Свиташев, К.К. | - |
| dc.contributor.author | Семененко, Л.В. | - |
| dc.contributor.author | Семененко, А.И. | - |
| dc.contributor.author | Шварц, Н.Л. | - |
| dc.date.accessioned | 2022-11-08T07:26:03Z | - |
| dc.date.available | 2022-11-08T07:26:03Z | - |
| dc.date.issued | 1979 | - |
| dc.identifier.citation | Определение параметров поглощающих пленок с помощью метода эллипсометрии / Э.Е. Дагман [и др.] // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1979. – Т. 46, вып. 3. – С. 559-565. | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/46612 | - |
| dc.description.abstract | Предложена методика определения оптических постоянных и толщины поглощающих пленок, основанная на применении метода максимального правдоподобия. | ru |
| dc.language.iso | Русский | ru |
| dc.publisher | Наука | ru |
| dc.title | Определение параметров поглощающих пленок с помощью метода эллипсометрии | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.identifier.udk | 535.34:539.238+535.51 | - |
| dc.placeOfPublication | Ленинград | ru |
| dc.edition | 3 | ru |
| dc.volume | 46 | ru |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Дагман_Определение.pdf | 11.67 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.