Title: Особенности исследований поперечных сечений субмикронных ИМС методов растровой электронной микроскопии
Authors: Лях, О.А.
Ковальчук, Н.С.
Issue Date: 2018
Publisher: Гомельский государственный университет имени Ф. Скорины
Citation: Лях, О.А. Особенности исследований поперечных сечений субмикронных ИМС методов растровой электронной микроскопии / О.А. Лях ; науч. рук. Н.С. Ковальчук // Актуальные вопросы физики и техники [Электронный ресурс]: VII Республиканская научная конференция студентов, магистрантов и аспирантов (Гомель, 25 апреля 2018 г.): материалы: в 3 ч. – Гомель: ГГУ им. Ф. Скорины, 2018. – Ч. 1. – С. 117-119.
URI: http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/50374
Appears in Collections:Статьи

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Лях_Особенности.pdf377.61 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.