Название: Особенности исследований поперечных сечений субмикронных ИМС методов растровой электронной микроскопии
Авторы: Лях, О.А.
Ковальчук, Н.С.
Дата публикации: 2018
Издательство: Гомельский государственный университет имени Ф. Скорины
Библиографическое описание: Лях, О.А. Особенности исследований поперечных сечений субмикронных ИМС методов растровой электронной микроскопии / О.А. Лях ; науч. рук. Н.С. Ковальчук // Актуальные вопросы физики и техники [Электронный ресурс]: VII Республиканская научная конференция студентов, магистрантов и аспирантов (Гомель, 25 апреля 2018 г.): материалы: в 3 ч. – Гомель: ГГУ им. Ф. Скорины, 2018. – Ч. 1. – С. 117-119.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/50374
Располагается в коллекциях:Статьи

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Лях_Особенности.pdf377.61 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.