| Название: | Метод эллипсометрического анализа пленки, нанесенной на неизвестную многослойную подложку |
| Авторы: | Абаев, М.И. |
| Дата публикации: | 1985 |
| Издательство: | Наука |
| Библиографическое описание: | Абаев, М.И. Метод эллипсометрического анализа пленки, нанесенной на неизвестную многослойную подложку / М.И. Абаев // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1985. – Т. 58, вып. 5. - С. 1164-1166. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/62627 |
| Располагается в коллекциях: | Оцифрованный фонд |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Абаев_Метод.pdf | 16.45 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.