Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Абаев, М.И. | - |
| dc.date.accessioned | 2023-09-19T12:24:34Z | - |
| dc.date.available | 2023-09-19T12:24:34Z | - |
| dc.date.issued | 1985 | - |
| dc.identifier.citation | Абаев, М.И. Метод эллипсометрического анализа пленки, нанесенной на неизвестную многослойную подложку / М.И. Абаев // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1985. – Т. 58, вып. 5. - С. 1164-1166. | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/62627 | - |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Наука | ru |
| dc.title | Метод эллипсометрического анализа пленки, нанесенной на неизвестную многослойную подложку | ru |
| dc.type | Article | ru |
| dc.identifier.udk | 535.32 : 539.238 | - |
| dc.root | Оптика и спектроскопия | ru |
| dc.placeOfPublication | Ленинград | ru |
| dc.edition | 5 | ru |
| dc.volume | 58 | ru |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Абаев_Метод.pdf | 16.45 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.