| Title: | Метод эллипсометрического анализа пленки, нанесенной на неизвестную многослойную подложку |
| Authors: | Абаев, М.И. |
| Issue Date: | 1985 |
| Publisher: | Наука |
| Citation: | Абаев, М.И. Метод эллипсометрического анализа пленки, нанесенной на неизвестную многослойную подложку / М.И. Абаев // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1985. – Т. 58, вып. 5. - С. 1164-1166. |
| URI: | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/62627 |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Абаев_Метод.pdf | 16.45 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.