| Title: | Влияния дополнительного отжига в вакууме на структуру, электрические и оптические свойства ZnO:Al пленок, синтезированных золь-гель методом |
| Other Titles: | Effects of additional vacuum annealing on the structure, electrical and optical properties of ZnO:Al films synthesized by sol-gel |
| Authors: | Сидский, В.В. Семченко, А.В. Гайшун, В.Е. Коваленко, Д.Л. Ханна, А.С. Sydsky, V.V. Semchenko, A.V. Gaishun, V.E. Kovalenko, D.L. Khanna, A.S. |
| Keywords: | оксид цинка золь-гель метод вакуумный отжиг кремниевые солнечные элементы пропускание поглощение дифракция zinc oxide sol-gel method vacuum annealing silicon solar cells transmission absorption diffraction |
| Issue Date: | 2018 |
| Publisher: | Гомельский государственный университет имени Ф.Скорины |
| Citation: | Влияния дополнительного отжига в вакууме на структуру, электрические и оптические свойства ZnO:Al пленок, синтезированных золь-гель методом = Effects of additional vacuum annealing on the structure, electrical and optical properties of ZnO:Al films synthesized by sol-gel / В.В. Сидский [и др.] // Проблемы физики, математики и техники. Сер.: Физика. - 2018. - № 4 (37). - С. 44-46. |
| Abstract: | Определено влияние дополнительного отжига в вакууме на структуру, электрофизические и оптические свойства ZnO:Al пленок, синтезированных золь-гель методом. Дополнительный отжиг в вакууме при температуре 350º С приводит к повышению содержания кристаллической фазы в пленках, наблюдается существенное уменьшение значений ширины запрещенной зоны, что хорошо согласуется с данными предыдущих исследований структурных свойств плёнок ZnO, полученных золь-гель методом. The effect of additional annealing in vacuum on the structure, electrical and optical properties of ZnO:Al films synthesized by sol-gel method is determined. Additional annealing in vacuum at the temperature of 350º С leads to the increasing of the content of the crystalline phase in the films. There significant decreasing of the widths of the forbidden gap is observed, which is in good agreement with the data of previous studies of the structural properties of ZnO:Al films. |
| URI: | http://hdl.handle.net/123456789/6303 |
| ISSN: | 2077-8708 |
| Appears in Collections: | Проблемы физики, математики, техники. Физика |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Сидский ВВ Семченко АВ Гайшун ВЕ Коваленко ДЛ Ханна АС 2018-4.pdf | 377.67 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.