| Title: | Новый метод определения параметров локального поля световой волны в одноосных жидких кристаллах |
| Authors: | Аверьянов, Е.М. Примак, А.Н. |
| Issue Date: | 1986 |
| Publisher: | Наука |
| Citation: | Аверьянов, Е.М. Новый метод определения параметров локального поля световой волны в одноосных жидких кристаллах / Е.М. Аверьянов, А.Н. Примак // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1986. – Т. 61, вып. 5. – С. 1040 - 1047. |
| Abstract: | Предложен и для ряда нематических жидких кристаллов различных химических классов реализован новый метод экспериментального определения компонент тензора локального поля световой волны в одноосных жидких кристаллах, основанный на использовании эффекта спектральной инверсии знака анизотропии локального поля и привлечении только рефрактометрических данных. |
| URI: | https://elib.gsu.by/handle123456789/66029 |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Аверьянов_Новый.pdf | 6.27 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.