| Название: | Новый метод определения параметров локального поля световой волны в одноосных жидких кристаллах |
| Авторы: | Аверьянов, Е.М. Примак, А.Н. |
| Дата публикации: | 1986 |
| Издательство: | Наука |
| Библиографическое описание: | Аверьянов, Е.М. Новый метод определения параметров локального поля световой волны в одноосных жидких кристаллах / Е.М. Аверьянов, А.Н. Примак // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1986. – Т. 61, вып. 5. – С. 1040 - 1047. |
| Краткий осмотр (реферат): | Предложен и для ряда нематических жидких кристаллов различных химических классов реализован новый метод экспериментального определения компонент тензора локального поля световой волны в одноосных жидких кристаллах, основанный на использовании эффекта спектральной инверсии знака анизотропии локального поля и привлечении только рефрактометрических данных. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://elib.gsu.by/handle123456789/66029 |
| Располагается в коллекциях: | Оцифрованный фонд |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Аверьянов_Новый.pdf | 6.27 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.