Browsing by Author Свиташев, К.К.

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
or enter first few letters:  
Showing results 1 to 15 of 15
Issue DateTitleAuthor(s)
1983Измерения малых вращений плоскости поляризацииСвиташев, К.К.; Хасанов, Т.
1977Исследование и анализ рабочих характеристик автоматизированной эллипсометрической установкиАлгазин, Ю.Б.; Архипенко, А.В.; Бакланов, М.Р.; Блюмкина, Ю.А.; Свиташев, К.К.; Семененко, Л.В.; Степанов, С.А.
1979Исследование модуляционной погрешности в эллипсометрииБлюмкина, Ю.А.; Архипенко, А.В.; Свиташев, К.К.
1984Компенсатор для спектральных исследованийМардежов, А.С.; Свиташев, К.К.; Хасанов, Т.
1972О точности и чувствительности метода эллипсометрииСвиташев, К.К.; Семененко, А.И.; Семененко, Л.В.; Соколов, В.К.
1977О точности и чувствительности метода эллипсометрииСвиташев, К.К.; Семененко, А.И.; Семененко, Л.В.; Соколов, В.К.; Филатова, Е.С.
1972Об измерении параметров тонких двухслойных диэлектрических пленок на полупроводниковых подложках эллипсометрическим методомСвиташев, К.К.; Семененко, А.И.; Семененко, Л.В.; Соколов, В.К.
1976Общее выражение для интенсивности рабочего светового пучка на выходе идеального эллипсометраСвиташев, К.К.; Филатова, Е.С.
1985Определение оптических постоянных одноосных кристаллов с учетом поверхностной изотропной пленки из эллипсометрических измеренийЛюбинская, Р.И.; Мардежов, А.С.; Свиташев, К.К.; Хасанов, Т.
1979Определение параметров поглощающих пленок с помощью метода эллипсометрииДагман, Э.Е.; Панькин, В.Г.; Свиташев, К.К.; Семененко, Л.В.; Семененко, А.И.; Шварц, Н.Л.
1978Оптические постоянные атомарно-чистой поверхности германия и кремния и их температурные зависимостиАлгазин, Ю.Б.; Блюмкина, Ю.А.; Гребнев, Н.И.; Свиташев, К.К.; Семененко, Л.В.; Яблонцева, Т.М.
1976Система автоматизации эллипсометрических измеренийБлюмкина, Ю.А.; Алгазин, Ю.Б.; Архипенко, А.В.; Свиташев, К.К.; Степанов, С.А.
1975Температурная зависимость оптических характеристик германия для λ=6328 ÅБакланов, М.Р.; Свиташев, К.К.; Семененко, Л.В.; Соколов, В.К.
1986Учет оптической активности компенсатора при юстировке эллипсометраСвиташев, К.К.; Хасанов, Т.
1974Эллипсометрия неоднородных поверхностных пленокВасильева, Л.Л.; Свиташев, К.К.; Семененко, А.И.; Семененко, Л.В.; Соколов, В.К.