| Title: | Фазовый состав и микроструктура тонких пленок Cu₂ZnSn(S,Se)₄ |
| Authors: | Станчик, А.В. Барайшук, С.М. Жигулин, Д.В. Петлицкий, А.Н. Труханова, Е.Л. Чумак, В.А. |
| Keywords: | прекурсор тонкие пленки CZTSSe микроструктура параметры шероховатости precursor thin films microstructure roughness parameter |
| Issue Date: | 2021 |
| Publisher: | Гомельский государственный университет имени Ф.Скорины |
| Citation: | Фазовый состав и микроструктура тонких пленок Cu₂ZnSn(S,Se)₄ / А.В. Станчик [и др.] // Известия Гомельского государственного университета имени Ф. Скорины. Сер.: Естественные науки. - 2021. - № 3 (126). - С. 143-149. |
| Abstract: | Тонкие пленки Cu₂ZnSn(SxSe₁₋ᵪ)₄ (CZTSSe) получены путем селенизации послойно нанесенных прекурсоров Cu/Sn/ZnS магнетронным напылением на подложки Мо/стекло и из чистого стекла. С помощью рентгеноспектрального микроанализа, рентгенофазового анализа, сканирующей электронной и атомно-силовой микроскопии установлено влияние элементного состава прекурсоров и типа подложек на формирование пленок CZTSSe. Cu₂ZnSn(SxSe₁₋ᵪ)₄ (CZTSSe) thin films were obtained by selenization of layer-by-layer Cu/Sn/ZnS precursors by magnetron sputtering on Mo/glass and glass substrates. The influence of the elemental composition of precursors and the type of substrates on the formation of CZTSSe films was established using Xray spectral microanalysis, X-ray phase analysis, scanning electron and atomic force microscopy. |
| URI: | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/23436 |
| Appears in Collections: | Известия ГГУ им. Франциска Скорины. Естественные науки |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Станчик_Фазовый.pdf | 974.76 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.