Название: Фазовый состав и микроструктура тонких пленок Cu₂ZnSn(S,Se)₄
Авторы: Станчик, А.В.
Барайшук, С.М.
Жигулин, Д.В.
Петлицкий, А.Н.
Труханова, Е.Л.
Чумак, В.А.
Ключевые слова: прекурсор
тонкие пленки
CZTSSe
микроструктура
параметры шероховатости
precursor
thin films
microstructure
roughness parameter
Дата публикации: 2021
Издательство: Гомельский государственный университет имени Ф.Скорины
Библиографическое описание: Фазовый состав и микроструктура тонких пленок Cu₂ZnSn(S,Se)₄ / А.В. Станчик [и др.] // Известия Гомельского государственного университета имени Ф. Скорины. Сер.: Естественные науки. - 2021. - № 3 (126). - С. 143-149.
Краткий осмотр (реферат): Тонкие пленки Cu₂ZnSn(SxSe₁₋ᵪ)₄ (CZTSSe) получены путем селенизации послойно нанесенных прекурсоров Cu/Sn/ZnS магнетронным напылением на подложки Мо/стекло и из чистого стекла. С помощью рентгеноспектрального микроанализа, рентгенофазового анализа, сканирующей электронной и атомно-силовой микроскопии установлено влияние элементного состава прекурсоров и типа подложек на формирование пленок CZTSSe. Cu₂ZnSn(SxSe₁₋ᵪ)₄ (CZTSSe) thin films were obtained by selenization of layer-by-layer Cu/Sn/ZnS precursors by magnetron sputtering on Mo/glass and glass substrates. The influence of the elemental composition of precursors and the type of substrates on the formation of CZTSSe films was established using Xray spectral microanalysis, X-ray phase analysis, scanning electron and atomic force microscopy.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/23436
Располагается в коллекциях:Известия ГГУ им. Франциска Скорины. Естественные науки

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Станчик_Фазовый.pdf974.76 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.