| Title: | Определение оптических постоянных одноосных кристаллов с учетом поверхностной изотропной пленки из эллипсометрических измерений |
| Authors: | Любинская, Р.И. Мардежов, А.С. Свиташев, К.К. Хасанов, Т. |
| Issue Date: | 1985 |
| Publisher: | Наука |
| Citation: | Определение оптических постоянных одноосных кристаллов с учетом поверхностной изотропной пленки из эллипсометрических измерений / Р.И.Любинская [и др.] // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1985. – Т. 59, вып. 2. – С. 353-356. |
| Abstract: | Рассматирвается эллипсометрический метод определения комплексных показателей преломления одноосных кристаллов с учетом наличия на поверхности кристалла однородной изотропной пленки. Для слчая прозрачных кристаллов метод позволяет находить показатели преломления для обыкновенного и необыкновенного лучей (𝑛₀ и 𝑛ₑ) с одновременным определением параметров поверхностного слоя (показателя преломления и толщины). При этом поверхностный слой предполагается как однородная изотропная прозрачная пленка. На примере экспериментального определения оптических констант криисталлического кварца и ниобата лития показана эффективность применения предложенного метода. Все полученные результаты относятся к одноосным кристаллам, вырезанным параллельно оптической оси. |
| URI: | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/62849 |
| Appears in Collections: | Оцифрованный фонд |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Любинская_Определение.pdf | 21.6 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.