| Название: | Определение оптических постоянных одноосных кристаллов с учетом поверхностной изотропной пленки из эллипсометрических измерений |
| Авторы: | Любинская, Р.И. Мардежов, А.С. Свиташев, К.К. Хасанов, Т. |
| Дата публикации: | 1985 |
| Издательство: | Наука |
| Библиографическое описание: | Определение оптических постоянных одноосных кристаллов с учетом поверхностной изотропной пленки из эллипсометрических измерений / Р.И.Любинская [и др.] // Оптика и спектроскопия / АН СССР. – Ленинград : Наука, 1985. – Т. 59, вып. 2. – С. 353-356. |
| Краткий осмотр (реферат): | Рассматирвается эллипсометрический метод определения комплексных показателей преломления одноосных кристаллов с учетом наличия на поверхности кристалла однородной изотропной пленки. Для слчая прозрачных кристаллов метод позволяет находить показатели преломления для обыкновенного и необыкновенного лучей (𝑛₀ и 𝑛ₑ) с одновременным определением параметров поверхностного слоя (показателя преломления и толщины). При этом поверхностный слой предполагается как однородная изотропная прозрачная пленка. На примере экспериментального определения оптических констант криисталлического кварца и ниобата лития показана эффективность применения предложенного метода. Все полученные результаты относятся к одноосным кристаллам, вырезанным параллельно оптической оси. |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://elib.gsu.by/jspui/handle/123456789/62849 |
| Располагается в коллекциях: | Оцифрованный фонд |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Любинская_Определение.pdf | 21.6 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.