Репозиторий УО "Гомельский государственный университет имени Франциска Скорины": Search

Search

Results 1-10 of 15 (Search time: 0.0 seconds).

previous
1
2
next

Item hits:

Issue Date	Title	Author(s)
1972	О точности и чувствительности метода эллипсометрии	Свиташев, К.К.; Семененко, А.И.; Семененко, Л.В.; Соколов, В.К.
1972	Об измерении параметров тонких двухслойных диэлектрических пленок на полупроводниковых подложках эллипсометрическим методом	Свиташев, К.К.; Семененко, А.И.; Семененко, Л.В.; Соколов, В.К.
1977	О точности и чувствительности метода эллипсометрии	Свиташев, К.К.; Семененко, А.И.; Семененко, Л.В.; Соколов, В.К.; Филатова, Е.С.
1979	Определение параметров поглощающих пленок с помощью метода эллипсометрии	Дагман, Э.Е.; Панькин, В.Г.; Свиташев, К.К.; Семененко, Л.В.; Семененко, А.И.; Шварц, Н.Л.
1976	Общее выражение для интенсивности рабочего светового пучка на выходе идеального эллипсометра	Свиташев, К.К.; Филатова, Е.С.
1976	Система автоматизации эллипсометрических измерений	Блюмкина, Ю.А.; Алгазин, Ю.Б.; Архипенко, А.В.; Свиташев, К.К.; Степанов, С.А.
1974	Эллипсометрия неоднородных поверхностных пленок	Васильева, Л.Л.; Свиташев, К.К.; Семененко, А.И.; Семененко, Л.В.; Соколов, В.К.
1975	Температурная зависимость оптических характеристик германия для λ=6328 Å	Бакланов, М.Р.; Свиташев, К.К.; Семененко, Л.В.; Соколов, В.К.
1977	Исследование и анализ рабочих характеристик автоматизированной эллипсометрической установки	Алгазин, Ю.Б.; Архипенко, А.В.; Бакланов, М.Р.; Блюмкина, Ю.А.; Свиташев, К.К.; Семененко, Л.В.; Степанов, С.А.
1978	Оптические постоянные атомарно-чистой поверхности германия и кремния и их температурные зависимости	Алгазин, Ю.Б.; Блюмкина, Ю.А.; Гребнев, Н.И.; Свиташев, К.К.; Семененко, Л.В.; Яблонцева, Т.М.